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首页 > 供应产品 > X荧光镀层膜厚仪
X荧光镀层膜厚仪
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产品: 浏览次数:31X荧光镀层膜厚仪 
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2026-06-26 14:51
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详细信息

产品名称

X荧光镀层膜厚仪主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等,天瑞仪器是生产X荧光镀层膜厚仪的厂家,分析仪器上市企业,Thick8000是目前公司达的一款,有着良好的三维移动平台,清晰的样品观测系统,国内品牌。

硬件

全景和局部两个工业高清摄像头

高低压电源

主机壹台,含下列主要部件: 

微焦斑X光管                 

大面积SDD电制冷半导体探测器

数字多道分析器

超高精度三维移动平台

开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩

电动调节准直器

防撞激光保护器

激光定位装置及图像自动对焦技术

软件及其他

天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件

计算机、打印机各一台

仪器使用说明书

标准附件

准直孔:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种(已内置于仪器中)

技术指标

良好的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围:硫(S)~铀(U

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

准直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃30℃

更多详情请咨询:http://www.szskyray.com/Products-31101844.html 
https://www.chem17.com/st377472/product_31101844.html 




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