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OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。
产品名称：OLED/LED电致发光/光致发光测量系统，EL/PL测量系统，多角度光谱测量系统，发光效率测量系统，发光光谱测量系统，外量子效率测量系统。
技术优势：
?角度依赖的PL光致发光谱分析
?角度依赖的EL电致发光谱分析
?角度依赖的发光分析
?兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件
?p-and s-偏振态检测
?偏振角度连续扫描
?发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析
?兼容各种几何尺寸样品
?样品便捷对准
?可与Setfos结合，对发光层进行分析
测量功能：
?颜色效率分析
?可视角分析
?量子效率EQE
?流明效率lm/W
?发光效率Cd/A
?发光区域拟合
?发光趋向分析
?发光特性角度依赖分析
?光谱和颜色VS.发射角
?发光层中偏振态分析
?散射特性分析
?工作点
?效能(cd/A)
?CIE坐标
?色温和显色指数等分析
?电流-电压-亮度(J-V-L)曲线测量
?光谱辐照度/强度
?辐射强度
?亮度
更多详情请咨询：http://www.julistech.com/SonList-2162674.html
https://www.chem17.com/st454219/erlist_2162674.html
巨力 OLED光谱分析系统